微信掃一掃 關（guān）注浦（pǔ）元最新（xīn）動態！ 我們日常生活中，很多（duō）生活物品都經過鍍膜機鍍上（shàng）了一層膜層（céng），讓（ràng）產品不僅變得更美觀，也更實用。但是很多人會有一個疑問，那既然是鍍了一層膜層，薄膜肯定（dìng）是有厚（hòu）度大小的，那麽薄膜厚度具體多厚呢，以及（jí）怎麽去測（cè）量（liàng）？
薄膜必須沉積在基底之上， 所以離開了基片也就無從談薄膜沉積的問題。基片的清洗好壞又對薄（báo）膜的質最有極共重（chóng）要的影響（xiǎng）。同時在（zài）薄膜的製（zhì）作中還必須（xū）知道薄膜的厚度，脫離了（le）薄膜的厚度（dù）來談薄膜性質的測最也是亳（bó）無意義的。 所以， 膜厚的測量和基片的清洗可（kě）以說（shuō）是和薄膜製作相關的重要技術。一般所謂的厚度是指兩個完全（quán）平整的平（píng）行平（píng）麵之間的距離，這個概念是一個幾何概念。
理想的薄膜厚（hòu）度是指基（jī）片表麵和薄膜表麵（miàn）之間的距離（lí）。在（zài）薄膜形（xíng）貌的三維度量中，相對於薄膜的厚度來講，其他兩維的度量可以說是無窮大。由於實際上存在（zài）的表麵是不平（píng）整和不連續的，而且薄膜（mó）的內部還可能存（cún）在著（zhe）氣孔、雜質、晶格缺陷和表麵吸附分子等等，所有（yǒu）要嚴格（gé）地定義和精確地測量薄膜的厚度實際上是很困難的。
膜厚（hòu）的定義位當根據測址的方法和測址（zhǐ）的目的決定。 因此，同一個（gè）薄膜，使用不同的測量方法會得到不同的結果， 即不同的（de）厚度。
在薄膜油測量中的表麵並不是一個幾何的概念，而是一個 物埋概念，是指表麵分子（原子）的集合。 平均表麵是指表麵原子所有的點到這（zhè）個麵的距離代數和等於零， 平均表麵是一個兒何概念。
我們通常將基片的一側的表麵分子的集合的平均表麵稱為基（jī）片表麵；薄膜上不（bú）和（hé）基片接觸的那一側的（de）表麵的（de）平均（jun1）表（biǎo）麵（miàn）稱為薄膜的形狀（zhuàng）表麵（miàn），將所測量的薄膜原子重新排列，使其密度和大塊（kuài）狀（zhuàng）固體材料完全一樣（yàng）且（qiě）均勻的分布在基片（piàn）表麵上，這時（shí）平均表麵稱為薄膜質量等價表麵；根據所測量薄膜的物理性質等效為一種長度和寬度與所測量的薄膜一樣的大塊（kuài）固體材料的薄膜，這時的平均（jun1）表麵稱為薄膜物性等價表麵。 形狀膜厚是比較接近於直觀形式的膜厚， 通常以µm為單位； 質量膜厚反映（yìng）了薄膜中包（bāo）含物質為多少，通常 以 µg/cm#8217;為單位， 物性（xìng）膜厚在實際（jì）使用上較有用， 而且比（bǐ）較容（róng）易測量。
由於實際表麵並不平（píng）整，同時薄膜製作過程中（zhōng）又不可避免地要有各種缺陷、 雜質和（hé）吸附分子（zǐ）等存在，所以不管用哪 一種方法來定義和測量膜厚，都是一個平均（jun1）值，而且足包括了（le）雜質、缺陷（xiàn）以及吸附分子在內的薄膜的厚度值。
真空鍍膜機鍍膜是在真空腔體下進行鍍（dù）膜（mó）的，對於測量膜（mó）厚度來說（shuō），是需要這（zhè）方麵專業的測量儀才能測出厚度大小。